68
Fabrication et étude d’une diode moléculaire RDN greffée sur silicium terminé hydrogène. Laurent BARATON Directeur de Thèse : Pr. Jean PINSON Directeur de recherche : Dr. Serge PALACIN

Fabrication et étude dune diode moléculaire RDN greffée sur silicium terminé hydrogène. Laurent BARATON Directeur de Thèse : Pr. Jean PINSON Directeur

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Fabrication et étude d’une diode moléculaire RDN

greffée sur silicium terminé hydrogène.

Laurent BARATONDirecteur de Thèse : Pr. Jean PINSON

Directeur de recherche : Dr. Serge PALACIN

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2

Contexte.

Des limitations physiques et financières de la technologie MOS apparaissent.

La longueur de grille des transistors d’un microprocesseur est aujourd’hui d’ordre nanométrique.Il est nécessaire de développer des technologies alternatives qui :• sont aussi fiables que la technologie existante• offrent des perspectives d’intégration plus importantes• ont des coûts de production plus faibles

Evolution du nombre de transistors dans un microprocesseur.Evolution de la longueur de grille d’un transistor.

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3

Une alternative : l’électronique moléculaire.1974 : Modèle de diode rectificatrice d’Aviram et Ratner.

Aviram, A.; Ratner, M. A. Chem. Phys. Lett. 1974, 29, 277.

S

S

S

S

CNNC

CNNC

Accepteur DonneurBarrière

A D

A

DA D

A D

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4

La diode à résistance différentielle négative : Effet tunnel résonnant

Métalp+-SiMolécule

conjuguée

Barrières tunnel

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5

La diode à résistance différentielle négative (NDR).

Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550.

Electrodes évaporées qui peuvent introduire ponctuellement des défauts

dans la monocouche organique.

SiSi

Si SiSi Si

Styrène

Guisinger, N. P.; Basu, R.; Greene, M. R.; Baluch, A. S.; Hersam, M. C. Nanotechnol. 2004, 15, S452.

Mesures réalisées par spectroscopie de courant

tunnel sous ultravide

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6

Dispositif cible : réseau de diodes RDN.

OO

NH

O

(H2C)6

O

O

Si

chaîne aliphatique

groupementconjugué

chaîne aliphatique

barrière tunnel

puitsdepotentiel

barrière tunnel

rôle électronique structure chimique

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Une démarche complète.

Synthèse « bottom up » d’un édifice moléculaire complexe lié de façon covalente à un substrat de silicium

Construction « top down » d’un dispositif électronique accueillant la monocouche

OO

NH

O

(H2C)6

O

O

Si

H H H H H H H

Silicium

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Utilisation d’un substrat de silicium terminé hydrogène :

Longueur de chaîne des barrières tunnel :

La liaison silicium carbone facilite le transfert électronique entre le substrat et la monocouche.

Elle doit permettre l’apparition d’un courant tunnel dans une gamme de potentiel compatible avec la monocouche moléculaire.

Synthèse séquentielle de la monocouche :

Evite d’exposer l’ensemble de la molécule aux conditions de greffage.

H H H H H H H

Silicium

Choix stratégiques

OO

NH

O

(H2C)6

O

O

Si

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9

Utilisation de nanotubes de carbone en tant qu’électrodes supérieures :

Electrodes nanométriques préconstruites déposées par des méthodes douces.

Profil en double tranchée :

Permet de connecter la monocouche d’épaisseur nanométrique à des électrodes métalliques macroscopiques.

Choix stratégiques

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1. Synthèse d’un édifice moléculaire complexe greffé sur une surface de silicium terminée

hydrogène.

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11

H X Yn

Y

n

Silicium Greffage covalent d'une "monocouche d'accroche"

Silicium Synthèse de la molécule via une réaction chimique classique

Synthèse séquentielle d’un édifice greffé sur silicium terminé hydrogène

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12

Techniques d’analyses de surface

IR ATR :• Analyse fonctionnelle des monocouches

• Analyse qualitative de l’organisation des monocouches

• Composition des monocouches

• Contrôle de l’oxydation du substrat

XPS :

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13

Analyse IR ATR

106 104 102 100 98 96

0

1000

2000

3000

4000

5000

6000

7000

Cou

ps /

s

Binding Energy (eV)

Signal

Si 2p 3/2

Si 2p 1/2

ligne de base

Analyse XPS

Les surfaces de silicium <111> terminées hydrogène.

Si – H : 2083,7 cm-1

99,6 eV

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14

Modèle d’évaluation de l’oxydation du substrat.

105 100 95-1000

0

1000

2000

3000

4000

5000

6000

7000

8000

9000

10000

11000

Données expérimentales

Si 2p 1/2

Si 2p 3/2

Si Oxydé Ligne de base

Inte

nsi

Energie de liaison (eV)

Analyse XPS d’une surface de silicium couverte de son oxyde natif. Dernière monocouche atomique

Atomes de la masse du substratx

y

z

ISi, bulk

ISi, surface

SurfSiSiSi

SurfSi

SiSurfSiSiSiSi

SiSurfSi

BulkSi

SurfSi

nln

n

nln

n

I

I

,

,

,

,

,

,

....

.

Si 4+ ~104 eV

Si0 99,6 eV

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Evaluation de l’état d’oxydation d’un substrat :Influence de l’angle de collection.

Greffage thermique du 1-hexène : analyse XPS à angle variable.

106 104 102 100 98 96

0

500

1000

1500

2000

2500

3000

106 104 102 100 98 96

0

500

1000

1500

2000

2500

3000

106 104 102 100 98 96

0

500

1000

1500

2000

2500

3000

106 104 102 100 98 96

0

500

1000

1500

2000

2500

3000 Données expérimentales

Inte

nsité

Energie de liaison (eV)

Si2p 3/2

Inte

nsité

Energie de liaison (eV)

Si2p 1/2

Inte

nsité

Energie de liaison (eV)

Ligne de base

Inte

nsité

Energie de liaison (eV)

106 104 102 100 98 96

0

1000

2000

3000

4000

Données expérimentales

Si2p3/2

Si2p1/2

SiOx Ligne de Base

Inte

nsi

Energie de liaison (eV)

Angle de collection normal à la surface

Angle de collection de 15° par rapport à

la surface

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Mécanisme de la gravure du silicium <111>.

Si H OH2 OH Si OH OHH2+ + + +

Si Si OH3 FH Si H SIF3OH+ 3 3 +

Gravure dépendante :

• du pH (pH basique favorise la gravure).

• de l’angle de désorientation car anisotrope.

• de la teneur en oxygène de la solution.

L’oxygène présent dans la solution est réduit lors d’une réaction électrochimique spontanée.

O2 OH2 2e -++ OH HO2-+

OH3HO2- OH2 (2e )-+ +

Ce phénomène ayant lieu partout sur la surface, il entraîne la formation de puits triangulaires à la surface du silicium.

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Procédé d’obtention.

4000 3500 3000 2500 2000 15000,8

0,9

1,0

Si-H

20

84

Tra

nsm

itta

nce

Nombre d'onde (cm-1)

Temps de gravure NH4F

5 minutes 10 minutes 20 minutes

200nm

7.95 Å

0.00 Å

106 104 102 100 98 96

0

1000

2000

3000

4000

5000

6000

7000

Co

un

t / s

Binding Energy (eV)

Signal

Si 2p 3/2

Si 2p 1/2

ligne de base

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Stabilité des surfaces de silicium terminées hydrogéne.

-50 0 50 100 150 200 250 300 350 40040

50

60

70

80

90

100

110

227 minutes

Air

e s

ou

s le

mo

de

Si-H

(%

de

l'a

ire

initi

ale

)

Temps (minutes)

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19

Réactivité de la liaison silicium - hydrogène.

H H H H H H H

Silicium

Fabrication de l’espèce réactive directement sur la

surface de silicium par rupture d’une liaison silicium – hydrogène

Fabrication de l’espèce réactive en solution puis réaction avec une liaison

silicium – hydrogène

Greffage thermique d’alcènes

Greffage par clivage électrochimique

d’halogénoalcanes

Greffage thermiqued’alcènes

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20

Greffage thermique d’alcènes.

Si

SiSi

H

SiSi

H

Si

SiSi

H

Si

Si

Si

SiSi

SiSi

H

Si

SiSi

H

Si

Si

Si

SiSi

SiSi

H

Si

SiSi

H

Si

Si

Si

SiSi

SiSi

H

Si

SiSi

H

Si

Si

H2C

CH

R

Si

SiSi

SiSi

H

Si

SiSi

H

Si

Si

H2C

CH

R

Si

SiSi

SiSi

Si

SiSi

H

Si

Si

H2C

CH2

R

etc...

initiationdu radical silyle

par activation thermique

R

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Greffage thermique d’alcènes.Mode opératoire :

• Tous les greffages sont réalisés à 100°C.

• Les alcènes disponibles commercialement sont purifiés par distillation et utilisés purs.

• Les alcènes de synthèse sont utilisés dilués dans un solvant organique inerte.

• Le milieu réactionnel est dégazé avant le greffage.

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Greffage thermique de chaînes fonctionnalisées acide.

106 104 102 100 98 96 94-1000

0

1000

2000

3000

4000

5000

6000

7000

8000

9000

10000

11000

Données exprérimentales

Si2p3/2

Si2p1/2

Ligne de base

Energie de liaison (eV)

Inte

nsi

Si

O

OH

a) l’acide 10-undécènoïque

Toutes les bandes caractéristiques sont présentes en IR et l’analyse XPS montre une surface très peu oxydée (3 %)

CH2

C=O

29

24

28

53

20

71

17

10

150020002500300035004000

Nombre d’onde (cm-1)

9496

9810

010

2

Tra

nsm

ittan

ce [

%]

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23

Réaction d’esterification / amidification des monocouches fonctionnalisées acide carboxylique.

O

OH

Si

O

A

X

n

Si

n

X

AH

Carbodiimide

Solvant

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Entrée Réactif Agent de couplage SolvantTemps

de réaction

1

EDC

DCM/DMF9/1

12 h

2

EDC

DCM 12 h

3DCCI

DCM 4 jours

Estérification et amidification des chaînes acide undécanoïque.

4000 3500 3000 2500 2000 15000.6

0.8

1.0

2923 28

51

2072

1662

1601

1546

2924

2853

2224

2060

1660

1595

1528

2924

2853

2070

1742

1708

1640

1527

1. aniline

2. 4-aminobenzonitrile

3. p-hydroxymethyl nitrobenzène

tra

nsm

itta

nce

%

nombre d'onde (cm-1)

Taux d’oxydation ~7% de la dernière monocouche atomique du substrat.

NH2

N C N

NH

Cl

NH2NC

N C N

NH

Cl

O2N

OH

N C N

Chaîne trop longue pour obtenir un courant tunnel dans une gamme de potentiel acceptable pour une monocouche organique.

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25

Greffage thermique de chaînes fonctionnalisées acide.

108 106 104 102 100 98 96

0

5000

10000

15000

Données expérimentales

Si2p 3/2

Si2p 1/2

SiOx Ligne de base

Inte

nsi

Energie de liaison (eV)

Oxydation moyenne du substrat bien supérieure à une monocouche d’atome.

b) l’acide 5-hexènoïque

CH2 C=O

O-HSi

O

OH

>100%

4000 3500 3000 2500 2000 15000.965

0.970

0.975

0.980

0.985

0.990

0.995

1.000

32

89

29

30

28

58

20

97

17

17

Tra

nsm

ittan

ce (

%)

Nombre d'onde (cm-1)

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26

Influence de la longueur de chaîne.

nOH

O

Si

nHO

O

Attraction

Répulsion

Inversiondéfavorisée pour n=8favorisée pour n=3

Plus la chaîne est longue, plus elle est susceptible de se préorganiser avant le greffage

Utilisation d’un groupement protecteur

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27

Greffage thermique de chaînes fonctionnalisées ester.

106 104 102 100 98 96

0

2000

4000

6000

8000

10000

12000

14000

Inte

nsité

Energie de liaison (eV)

Données expérimentales

Si2p3/2

Si2p 1/2

Oxyde Ligne de base

Si

O

O

N

O

O

CH2

C=O

L’oxydation moyenne du substrat très inférieure à celle observée lors du greffage de l’acide 5-hexènoïque.

20%

4000 3500 3000 2500 2000 1500

0.86

0.88

0.90

0.92

0.94

0.96

0.98

1.00

1.02

1.04

29

28

28

56

18

15

17

86

17

40

Tra

nsm

ittan

ce (

%)

Nombre d'onde (cm-1)

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28

Estérification d’une monocouche terminée N-succinimidyle :

Synthèse d’une monocouche

Si

O

O

NO

O

OO

NH

O(H2C)6

O

O

Si

OH

NH

(CH 2)6

OO

O

DMAP cat.Toluène / 60°C / 3h

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29

Estérification d’une monocouche terminé N-succinimidyle :

Synthèse d’une monocouche

OO

NH

O

(H2C)6

O

O

Si

104 100 96

0

2500

5000

7500

10000

12500

Données expérimentales

Si 2p1/2

Si 2p3/2

SiOx Ligne de base

Inte

nsi

Energie de liaison (eV)

Taux d’oxydation trop élevé

CH2

C=Oester

C=Oamide

C=Caromatique

La réaction d’esterification a bien eu lieu

CH3 80%

4000 3500 3000 2500 2000 15000.96

0.97

0.98

0.99

1.00

1.01

1.02

29

28

28

55

20

95

17

35

16

59

Tra

nsm

itta

nce

(%

)

Nombre d'onde (cm-1)

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30

Réactivité de la liaison silicium - hydrogène.

H H H H H H H

Silicium

Fabrication de l’espèce réactive directement sur la

surface de silicium par rupture d’une liaison silicium – hydrogène

Fabrication de l’espèce réactive en solution puis réaction avec une liaison

silicium – hydrogène

Greffage thermique d’alcènes

Greffage par clivage électrochimique

d’halogénoalcanes

Greffage par clivageélectrochimique

d’halogénoalcanes

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31

Greffage par clivage électrochimique d’halogénoalcanes.

Si R HSi H R ++

Si R Si R+

Si R X XSi R

Si Sie-

+ +

+

SiSi R SiSi R+ +

R Re-+

R R X Xe ++ -

La réduction électrochimique d’un halogénoalcane forme un radical alkyle :

Trois réactions de greffage sont alors envisageables :

i) Un radical silyle est formé et la liaison silicium carbone est formée par un couplage radical – radical.

ii) Le radical silyle est réduit en silylure. Ce dernier réalise une substitution nucléophile sur un halogénoalcane

iii) Le radical alkyle est réduit en carbanion. La liaison silicium carbone est formée par rupture d’une liaison silicium – silicium.

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32

Greffage électrochimique.

Mode opératoire :

Dans tous les cas, les greffages électrochimiques sont réalisés sous atmosphère contrôlée.

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33

Greffage électrochimique de chaînes fonctionnalisées ester.

a) Transhalogénation in-situ :

Br O

O

N

O

O

I O

O

N

O

O

LiI

LiBr

-3.5 -3.0 -2.5 -2.0 -1.5 -1.0 -0.5 0.0-1400

-1200

-1000

-800

-600

-400

-200

0

200

I (µ

A)

E(V)

Le potentiel de réduction d’un iodoalcane est inférieur à celui d’un bromoalcane.

Le iodoalcane est consommé à la cathode et l’équilibre de la transhalogénation est déplacé dans le sens de sa formation.

Le sel de fond halogéné donne lieu à une réaction de transhalogénation.

TEAP (5.10-2 mol.L-1) dans l'acétonitrileLiI (5.10-2 mol.L-1) dans l'acétonitrileElectroactivité du sel de fond LiI

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Greffage électrochimique de chaînes fonctionnalisées ester.

b) Electrogreffage :

-2.0 -1.8 -1.6 -1.4 -1.2 -1.0 -0.8 -0.6 -0.4 -0.2

-500

-400

-300

-200

-100

0

1er cycle

10eme cycle

balayage à 2 mV.s-1

I (µ

A)

E (V)

CH2 C=O ?

acétonitrile / LiI 5.10-2 mol.L-1

Le greffage est réalisé par voltammétrie cyclique.

Le groupement succinimide ne semble pas supporter l’électrogreffage. L’analyse XPS montre un substrat fortement oxydé.Ce mode de greffage est abandonné.

O

O

NO

O

Si

4000 3500 3000 2500 2000 1500

0.96

0.98

1.00

1.02

1.04

2917

2848

1732

1668

1615

Tan

rsm

issi

on (

%)

Nombre d'onde (cm-1)

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Greffage électrochimique de composés dihalogénés.

a) 1,10-diiododécane

I

Si

4000 3500 3000 2500 2000 1500

0.86

0.88

0.90

0.92

0.94

0.96

0.98

1.00

1.02

1.04

1.06

1.08

2925

2852

Tra

nsm

issi

on

(%)

Nombre d'onde (cm-1)

Bandes de vibration CH2 particulièrement intenses.

Le rapport carbone / silicium est particulièrement élevé.

-2.2 -2.0 -1.8 -1.6 -1.4 -1.2 -1.0 -0.8 -0.6

-140

-120

-100

-80

-60

-40

-20

0

20 1er cycle

40eme cycle

I (µ

A)

E (V)

Acétonitrile / NaI 5.10-2 Mol.L-1

20 mV.s-1

Pic de réduction (-1,6V ; -1,7 V)

Oxydation de l’ordre de 10% de la dernière monocouche atomique du substrat

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36

Greffage électrochimique de composés dihalogénés.

b) Comparaison des greffages de l’acide 10-undécénoïque et 1,10-diiododécane

Produit greffé Mode de greffage

Analyse IR ATR du mode CH2

asymétriqueAnalyse XPS

Nombre d’onde (cm-1)

Intensité par

méthylène

Rapport C/Si

Réoxydation

Acide 11-undécènoïque

Thermique 2924 0,60% 0,015 3%

1,10-diiododécane électrochimique 2925 1,50% 0,080 10%

1200 1000 800 600 400 200 0-2000

0

2000

4000

6000

8000

10000

12000

14000

Acide 10-undécènoïque greffé thermiquement 1,10 diiododécane greffé électrochimiquement

Inte

nsité

Energie de liaison (eV)

C 1s

Si 2s

Si 2p

O 1s

I 3d

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37

Greffage électrochimique de composés dihalogénés.

c) 1,10-diiododécane – mécanisme d’oligomérisation

CH2

IC

H2

9Si I

20Si+

ISi I10

e- Si CH2

9+

I I10

CH2

9I I+e-

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38

Greffage électrochimique de composés dihalogénés.

d) 1-chloro, 6-iodo hexane

-2.2 -2.0 -1.8 -1.6 -1.4 -1.2 -1.0 -0.8 -0.6-140

-120

-100

-80

-60

-40

-20

0

20

I (µ

A)

E (V)

1er cycle

40éme cycle

Pic de réduction (-1,7 V)

Si

Cl

La monocouche étant terminée par un chlore, la première étape d’oligomérisation proposée pour le diiodé ne peut avoir lieu.

Les intensités des bandes CH2 et le rapport carbone / silicium sont plus proches de ceux observés lors des greffages thermiques.

4000 3500 3000 2500 2000 15000.94

0.95

0.96

0.97

0.98

0.99

1.00

1.01

1.02

2922

2852

Tra

nsm

issi

on (

%)

Nombre d'onde (cm-1)

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39

Comparaison des monocouches à 6 carbones.

Produit grefféMode de greffage

Analyse IR ATR du mode CH2

asymétriqueAnalyse XPS

Nombre d’onde (cm-1)

Intensité par

méthylène

Rapport C/Si

Réoxydation

1-chloro,6-iodohexaneélectrochimique 2922 1,25% 0,018 <10%

1-hexèneThermique 2923 0,70% 0,027 10%

Ester N-succimidyle de l’acide 5-hexènoïque Thermique 2928 0,30% 0,014 20%

Si

SiCl

Si

O

ON

O

O

Encombrement stérique croissant.

Compacité relative de la monocouche croissante.

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40

Conclusion

Lors du greffage de différentes chaînes bifonctionnelles il est apparu :

• Que la longueur de la chaîne joue un rôle dans la préorganisation de la monocouche.

• Que l’encombrement stérique du groupement terminal influe sur la compacité de la couche obtenue.

• Que la réalisation de réactions chimiques simples à partir des fonctions terminales est possible.

Un meilleur contrôle de la réoxydation du substrat est nécessaire.

La réactivité des monocouches terminées chlore reste à mettre en évidence.

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2. Fabrication d’un dispositif électronique macroscopique

permettant d’exploiter les propriétés électroniques d’une

monocouche organique.

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42

La jonction verticale croisée.

• Faible surface de recouvrement des électrodes.

Le nombre de molécules connectées est restreint.

• Permet la construction de réseaux (TERAMAC).

Architecture prometteuse permettant de tolérer des défauts dans un circuit logique.

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43

Les nanotubes de carbone simple paroi (SWNT)

• Electrodes nanométriques préexistantes.

• Leurs propriétés mécaniques leur permettent d’épouser le profil en double tranchée du dispositif et d’être tolérants à d’éventuels défauts nanométriques de la monocouche.

• Les propriétés de transport électronique des nanotubes métalliques en font des conducteurs idéals.

Résistance réduite au contact tube-métal. Capacité à conduire de grandes quantités de courant.

• Possibilité d’orienter le dépôt localisé des nanotubes sur la surface.

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Dispositif électronique.

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Procédé de fabrication de la puce.

1. Gravure humide de la première tranchée par de l’acide fluorhydrique tamponné (BHF)

Gravure BHF

lift off

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46

Calibration de la gravure humide.

0 2 4 6 8 10-20

0

20

40

60

80

100

120

140

Z (

nm

)

X (µm)

0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.00

20

40

60

80

100

120

140

160

180

200

220

240

260 Données expérimentales

Abaque de la gravure de l'oxyde

Mise à nu du silicium

sur un oxyde de 250 nm

H (

nm

)

Temps de gravure (minute)

Données expérimentales

Abaque de la gravure de l’oxyde

Mise à nu du silicium sur un oxyde de 250 nm

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47

Autres paramètres influant sur la gravure.

• le pH de la solution de gravure.

0 5 10-150

-100

-50

0

pH 6.5 pH 4

Z (

nm

)

X (µm)

Méthode de croissance de l’oxyde Vitesse de gravure dans le BHF.

Thermique à 1100°C en présence de vapeur 62,0 nm/min

PECVD(déposition chimique en phase vapeur assistée par

plasma)120,0-200,0 nm/min

• le mode de croissance de la silice épaisse.

pH 6,5pH 4

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48

Procédé de fabrication de la puce.

2. Fabrication de la double tranchée

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49

Fabrication de la double tranchée.

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50

Fabrication de la double tranchée.

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51

Procédé de fabrication de la puce.

3. Dépôt des nanotubes de carbones

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52

Dépôt des nanotubes.

2.0µm

• Le dépôt des nanotubes est aléatoire à partir d’une suspension dans le dichloroéthane.

237.79 nm

0.00 nm

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53

Dépôt des nanotubes.

Ils sont ensuite repérés par AFM et leurs positions sont reportées sur le masque de lithographie électronique, afin de les connecter aux

électrodes macroscopiques.

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Image AFM d’un nanotube connecté.

2 4 6

-120

-60

0

98 n

m

722 nm

3.73 µm

55 n

m

152

nm

Z (

nm

)

X (µm)

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55

Conclusion

Un procédé d’obtention d’un dispositif électronique permettant de contacter une monocouche organique à des électrodes macroscopiques a été mis au point.

Le très grand nombre d’étapes appelle une optimisation du procédé :

•L’utilisation de dispositif de type LOCOS évite l’utilisation du profil en double tranchée et supprime l’étape de lithographie humide.

•L’étape de localisation par AFM des nanotubes peut être supprimée grâce au dépôt localisé sur des pistes de silane.

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Conclusion générale et perspectives.

Multiplexage complet en utilisant des électrodes de silicium de dimensions nanométriques.

Afin d’assurer la formation de la monocouche au fond d’une tranchée:

•influence du dopage du silicium sur l’obtention de la monocouche.

•phénomènes physiques entrant en jeu (mouillage).

•répartition de l’éventuelle réoxydation.

X

Silicium

La synthèse de l’édifice pourrait être améliorée par :

•l’utilisation d’autres groupements fonctionnels pour le greffage ou la construction séquentielle de l’édifice.

•l’utilisation de monocouches mixtes afin d’obtenir une monocouche d’accroche plus dense et de mieux maîtriser la réoxydation du substrat.

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57

RemerciementsLaboratoire de Chimie des Surfaces et Interfaces (CEA/DRECAM/LCSI).

Laboratoire d’Electronique Moléculaire (LEM).

Pascale JEGOUCédric LEGERGuillaume ANGENEAU

Jean Philippe BOURGOINVincent DERYCKEErik DUJARDINJulien BORGHETTI

Université Cergy Pontoise (LPME).

Claude CHEVROTFrançois TRAN-VAN

Institut d’Electronique et Micro-Electronique du Nord (IEMN).

Dominique VUILLAUMEStéphane LENFANT

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58

-40

-30

-20

-10

0

10

-2.5 -2 -1.5 -1 -0.5

I (A

)

E (V)

SiH

2 mV.s-1

TEAP 5x10-2 mol.L-1

-40

-30

-20

-10

0

10

-2.5 -2 -1.5 -1 -0.5

I (A

)

E (V)

SiH

2 mV.s-1

TEAP 5x10-2 mol.L-1

Electroactivité cathodique d’un cristal de silicium terminé hydrogène

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59

-2.5

-2

-1.5

-1

-0.5

0

0.5

-3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1 -0.5

2004 07 13

I (A

)

E (V)

SiH

2 mV.s-1

blanc

NaI 5x10-2 mol.L-1

-2.5

-2

-1.5

-1

-0.5

0

0.5

-3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1 -0.5

2004 07 13

I (A

)

E (V)

SiH

2 mV.s-1

blanc

NaI 5x10-2 mol.L-1

Electroactivité cathodique d’un cristal de silicium terminé hydrogène

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Réaction d’esterification / amidification des monocouches fonctionnalisées acide carboxylique.

A NH O

X H ou CN NO2

n 0 1

R

O

O H

R1 N C N R2+ R1

HN C N R2

OO

R

X

A

n

H

A

X

+

R1

HN C

HN R2

O

O

Rn

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Estérification d’une monocouche terminé N-succinimidyle :

Synthèse d’une monocouche

N

N

OH

NH

(CH2)6

OO

O

NH

+

N

O

NH

(CH2)6

OO

O

+ +

O

NH

(CH2)6

OO

O

N OO

O

Si

O

O

N

O

OOO

NH

O

(H2C)6

O

O

Si

+ +

N OO

O

NH

+

N

N OO

OH

N

N

+ +

a)

b)

c)

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62

Greffage de chaînes alkyles simples.

2955

.97

2923

.40

2852

.73

2080

.61

150020002500300035004000

Wavenumber cm-1

96

98

10

01

02

10

4

Tra

nsm

itta

nce

[%

]

15002000250030003500

Wavenumber cm-1

56

57

58

59

60

61

62

Tra

nsm

itta

nce

[%

]

Greffage thermique1-hexène.

Greffage électrochimique du 1-iodoheptane.

La métallisation d’une face du cristal provoque une diminution importante du signal infra rouge.

I

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La diode à résistance différentielle négative (NDR).1999 : L’observation d’un phénomène de NDR par Reed et al.

Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550.

RDN due à un changement d’état d’oxydation et donc de conductivité de la chaîne polyphényline.

Electrodes évaporées peuvent détruire ponctuellement la monocouche organique.

Page 64: Fabrication et étude dune diode moléculaire RDN greffée sur silicium terminé hydrogène. Laurent BARATON Directeur de Thèse : Pr. Jean PINSON Directeur

64

La diode à résistance différentielle négative (NDR).

SiSi

Si SiSi Si

Styrène

N

OSi Si

Si SiSiSi

TEMPO(2,2,6,6-tetraméthyl-1-piperidinyloxy)

2004 : L’observation d’un phénomène de NDR par Hersham et al.

Guisinger, N. P.; Basu, R.; Greene, M. R.; Baluch, A. S.; Hersam, M. C. Nanotechnol. 2004, 15, S452.

Mesures réalisées par spectroscopie de courant tunnel sous ultravide

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Conclusion.

H H H H H H H

Silicium

O

O

NH

O

(H2C)6

O

O

Si

Synthèse « bottom up » d’un édifice moléculaire complexe lié de façon covalente à un substrat de silicium

Construction « top down » d’un dispositif électronique accueillant la monocouche

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Conclusion générale.

• La voie de synthèse qui a permis d’obtenir une molécule greffée sur silicium hydrogène conduit également à un substrat fortement oxydé.

• L’encombrement stérique semble influer sur la compacité de la monocouche d’accroche et donc la tendance du substrat à se réoxyder.

Perspectives• Mettre en évidence la possibilité de mener des réaction chimiques

à partir de la monocouche obtenue par greffage électrochimique d’un 1-chloro, -iodoalcane.

• Envisager d’autre groupements fonctionnels que ce soit pour le greffage ou la construction de la molécule .

• Tester les monococuches mixtes pour palier à la gène stérique due au groupement terminale.

• Etudier l’effet du dopage du silicium sur la stabilité de la monocouche.

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Conclusion

• La gravure BHF de la silice épaisse est une étape complexe et peu reproductible quand à la largeur de la tranchée obtenue.

• Le dépôt aléatoire des nanotubes de carbone rallonge le procédé de fabrication et empêche la fabrication d’un réseau.

• La multiplication des étapes limite le nombres d’échantillons et donc les chances de mesures.

Perspectives• Supprimer l’étape de gravure humide en utilisant des puces portant

de électrodes déposé sur une silice épaisse mais couvertes d’un oxyde partout ailleurs (LOCOS).

• Utiliser une méthode de dépôt localisé des nanotubes de carbone.

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Les mesures expérimentales de courant à travers une monocouche organique.

Spectroscopie de courant tunnel :

Fullérène (1995) Joachim et al.