7
Formation en alternance Crolles Isere-France

Formation en alternance Crolles Isere-France. Flot de conception numérique pour le test des mémoires embarquées dans les circuits

Embed Size (px)

Citation preview

Page 1: Formation en alternance Crolles Isere-France. Flot de conception numérique pour le test des mémoires embarquées dans les circuits

Formation en alternance

Crolles

Isere-France

Page 2: Formation en alternance Crolles Isere-France. Flot de conception numérique pour le test des mémoires embarquées dans les circuits

Flot de conception numérique pour le test des mémoires embarquées

dans les circuits

Page 3: Formation en alternance Crolles Isere-France. Flot de conception numérique pour le test des mémoires embarquées dans les circuits

Domaine d’activité

• Conception de circuits intégrés numériques

• En relation avec les équipes de:– Bibliothèques de cellules standards et mémoires

– Conception de sous-systèmes lies aux mémoires

– Développement de flot de conception numérique (vérification de code, synthèse logique, test, low-power, simulation, etc.)

N° 83575

Page 4: Formation en alternance Crolles Isere-France. Flot de conception numérique pour le test des mémoires embarquées dans les circuits

Environnement

• STMicroelectronics à Crolles dans l’organisation Central CAD & Design Solutions

• Equipe R&D, multiculturelle– Multi sites : Crolles – Inde – En contact avec les équipes de conception basées sur d’autres sites

(Grenoble, Italie, Maroc, Tunisie, USA et Inde)

• Equipe « sous-systèmes de Test de mémoire » : – Conception

• de systèmes compétitifs de test, diagnostic et réparation de mémoires• d’autres sous-système apportant une valeur ajoutées aux bibliothèques de base

(interface de bus, correction d’erreur non permanente, etc. ) – Automatisation

• de l’insertion des solutions de tests dans le flot de conception numérique • de l’exploitation des résultats en lien avec les testeurs de circuit

Page 5: Formation en alternance Crolles Isere-France. Flot de conception numérique pour le test des mémoires embarquées dans les circuits

Exemple de sous-systèmes lies aux mémoires

MEMORY

Addr

Cs n

Wen

D

QD

Q

LOGIC LOGIC

ATE

BISTD

ata

REPAIR

WRAPPER

ECC, FIFO CTRL,

Extenseur de Memory,Bus Interface

etc

Memory Test & Repair

componentsTAP

Page 6: Formation en alternance Crolles Isere-France. Flot de conception numérique pour le test des mémoires embarquées dans les circuits

Mission

• Validation des nos différentes solutions de sous-systèmes de mémoires dans le flot complet de conception logique:

• Environnement de Simulation, Synthèse et de Test• Outil d’insertion de sous-systèmes de tests• Contraintes du Flot Low-power• Nouvelles techniques d’assemblage de composants• Etc.

• Benchmark des solutions avec la compétition• Contribuer au support des outils et méthodes

auprès des utilisateurs

Page 7: Formation en alternance Crolles Isere-France. Flot de conception numérique pour le test des mémoires embarquées dans les circuits

Connaissances acquises lors de cette formation

• Flot de conception numérique en 65nm/45nm/32nm utilisé à STMicroelectronics:– Compréhension des compromis surface, timing, consommation– Codage RTL (VHDL et Verilog)– Simulation numérique– Preuve formelle– Synthèse logique– Testabilité

• Outils de CAO (Conception Assistée par Ordinateur) venant de différents fournisseurs de logiciels– Spécification des besoins– Utilisation– Esprit critique